مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

مقاله مقاله نشریه

مشخصات مقاله

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

video

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

sound

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

نسخه انگلیسی

مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

بازدید:

978
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

دانلود:

0
مرکز اطلاعات علمی Scientific Information Database (SID) - Trusted Source for Research and Academic Resources

استناد:

اطلاعات مقاله نشریه

عنوان

بهینه سازی پارامترهای خوردگی الکتروشیمیایی در ساخت نانوسوزن تنگستنی میکروسکوپ های یونی میدانی و تونلی روبشی

صفحات

 صفحه شروع 79 | صفحه پایان 83

چکیده

 میکروسکوپ نوری میدانی (FIM) و میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) کاربرد وسیعی در نانوتکنولوژی پیدا نموده است. این میکروسکوپ ها از یک نانوسوزن فلزی برای گرفتن تصویر استفاده می کنند. وضوح تصاویر FIM و STM به میزان زیادی وابسته به شعاع نوک نانوسوزن است. هر چه شعاع کوچک تر باشد, وضوح تصاویر بالاتر است. در این پژوهش, برای ساخت نانوسوزن تنگستنی, روش خوردگی الکتروشیمیایی سیم تنگستن مورد استفاده قرار گرفت که در آن از یک سیم تنگستن با قطر 0.3 میلیمتر به عنوان آند, یک لوله گرافیتی به عنوان کاتد و محلول KOH در آب دی یونیزه به عنوان الکترولیت استفاده شد. مهم ترین پارامترهای حاکم بر فرایند ساخت نانوسوزن عبارتند از: تاخیر زمانی قطع ولتاژ در انتهای فرایند ساخت نانوسوزن, غلظت الکترولیت, طول غوطه وری سیم تنگستن, قطر داخلی لوله کاتد و ولتاژ فرایند. در این تحقیق, با استفاده از روش تاگوچی, تاثیرات پارامترهای مذکور بر شعاع نوک نانوسوزن بررسی شد. مشخص شد که ترتیب تاثیر متغیرهای فرایند بر شعاع نوک نانوسوزن عبارتست از: -1 ولتاژ فرایند -2 غلظت الکترولیت -3 طول غوطه وری سیم تنگستن و -4 قطر داخلی لوله کاتد. با تنظیم پارامترهای فرایند بر روی مقادیر بهینه, شعاع نوک نانوسوزن در مقایسه با مقدار میانگین نتایج آزمایشگاهی 5 برابر کوچک تر شد و شعاع نوک حدود 10 نانومتر حاصل شد.

چندرسانه ای

  • ثبت نشده است.
  • استنادها

  • ثبت نشده است.
  • ارجاعات

  • ثبت نشده است.
  • استناددهی

    APA: کپی

    طهماسبی پور، قدرت، احمدی، وحید، و عبداله، امیر. (1388). بهینه سازی پارامترهای خوردگی الکتروشیمیایی در ساخت نانوسوزن تنگستنی میکروسکوپ های یونی میدانی و تونلی روبشی. مجله علوم جمهوری اسلامی ایران، 21(1)، 79-83. SID. https://sid.ir/paper/84086/fa

    Vancouver: کپی

    طهماسبی پور قدرت، احمدی وحید، عبداله امیر. بهینه سازی پارامترهای خوردگی الکتروشیمیایی در ساخت نانوسوزن تنگستنی میکروسکوپ های یونی میدانی و تونلی روبشی. مجله علوم جمهوری اسلامی ایران[Internet]. 1388؛21(1):79-83. Available from: https://sid.ir/paper/84086/fa

    IEEE: کپی

    قدرت طهماسبی پور، وحید احمدی، و امیر عبداله، “بهینه سازی پارامترهای خوردگی الکتروشیمیایی در ساخت نانوسوزن تنگستنی میکروسکوپ های یونی میدانی و تونلی روبشی،” مجله علوم جمهوری اسلامی ایران، vol. 21، no. 1، pp. 79–83، 1388، [Online]. Available: https://sid.ir/paper/84086/fa

    مقالات مرتبط نشریه ای

    مقالات مرتبط همایشی

  • ثبت نشده است.
  • طرح های مرتبط

  • ثبت نشده است.
  • کارگاه های پیشنهادی






    بازگشت به بالا
    telegram sharing button
    whatsapp sharing button
    linkedin sharing button
    twitter sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    email sharing button
    sharethis sharing button