نسخه جدید سایت SID.ir

مشخصات مقاله

عنوان: 

مشخصه یابی لایه نازک SiO2 نشانده شده روی ویفر سیلیکان به روش CVTC

نوع ارائه: مقاله
نویسنده: سيدي آراني طاهره سادات,شهشهاني فاطمه,ثابت دارياني رضا,سجاد بتول,شورشيني سيده زهرا
 
 
 
عنوان همایش: كنفرانس فيزيك ايران
نوع همایش:  انجمن هاي علمي
حامی:  دانشگاه بيرجند
زمان:  1392دوره 1
 
چکیده: 

لطفا براي مشاهده چکيده به متن کامل (PDF) مراجعه فرماييد.

 
کلید واژه: 
 
مقالات نشریه ای مرتبط: 
  • ندارد
 
مقالات همایشی مرتبط: 
  • ندارد
 
ارتباط خیلی زیاد ارتباط زیاد مرتبط ارتباط کمتر
 
 
بازدید یکساله 59   pdf-file
 
 
 
آخرین های بلاگ
ورود به بلاگ مرکز اطلاعات علمی