مشخصات مقاله عنوان: مشخصه يابي لايه نازک SiO2 نشانده شده روي ويفر سيليکان به روش CVTC نوع ارائه: مقاله نویسنده: سيدي آراني طاهره سادات,شهشهاني فاطمه,ثابت دارياني رضا,سجاد بتول,شورشيني سيده زهرا عنوان همایش: كنفرانس فيزيك ايران نوع همایش: انجمن هاي علمي حامی: دانشگاه بيرجند زمان: 1392, دوره 1 چکیده: لطفا براي مشاهده چکيده به متن کامل (PDF) مراجعه فرماييد. كليد واژه: مقالات نشریه ای مرتبط: بررسي ويژگي هاي تخته ويفر چوب از ضايعات چوب راشسر مقالهتعيين ميزان شيوع آلودگي مواد غذايي به رنگ هاي مصنوعي با روش کروماتوگرافي لايه نازک در شهرکردشبيه سازي اثرات نوع آلايش و چگالي جريان در رشد سيليکان متخلخل به روش اصلاح شده انبوهش پخش محدودسخن ما مقالات همایشی مرتبط: سيليکان متخلخل به عنوان ماده اي نوين در ساختار سلولهاي خورشيدي سيليکانيبررسي طيف فوتولومينسانس سطح ويفر GaAs در سرعت هاي مختلف فرآيند نازک کاريتهيه کرنش عمودي سيليکان متخلخل بر روي زيرلايه سيليکان نوع p (100) با استفاده از پراش پرتو ايکسرشد اکسيد سيليکان در دماي خيلي پايين به کمک پلاسماي اکسيژن و نانوبلورهاي سيليکان براي ساخت ترانزيستورهاي لايه نازک بر بستر انعطاف پذيرمطالعه ي ساختاري لايه هاي نيتريد موليبدن انباشتي بر روي سيليکان بازدید یکساله 17 آخرین های بلاگ با کد رایگان QR میزان استفاده از ارائه خود را افزایش دهیدمحققان پر استناد ایران در سال 2019موضوعات جدید علمی را استخراج کنیدبا سرویس رایگان موضوعات مرتبط در ساینس دایرکت آشنا شویمبا پابلونز: مقالات علمی خود را به صورت رایگان از وب آو ساینس رصد کنیمچگونه استنادات خود را افزایش دهیم؟ ورود به بلاگ مرکز اطلاعات علمی