برای اطلاع از آخرین مقالات علمی و اخبار کرونا(COVID-19) کلیک کنید

مشخصات مقاله

عنوان: 

بررسی روند آزمون تراشه های سیستمی بر اساس استاندارد IEEE 1500

نوع ارائه: سخنراني
نویسنده: نياركي اصلي راهبه*
 
 *دانشگاه گيلان، دانشکده فني
 
عنوان همایش: كنفرانس ملي سالانه انجمن كامپيوتر ايران
نوع همایش:  انجمن هاي علمي
حامی:  انجمن کامپیوتر ایران، مرکز توسعه فن آوری نیرو (متن)
زمان:  1388دوره 15
 
چکیده: 
fiogf49gjkf0d

لطفا براي مشاهده چکيده به متن کامل (PDF) مراجعه فرماييد.

 
کلید واژه: آزمون سيستم هاي تراشه اي، استاندارد IEEE 1500، پوشش هسته اي داخلي
 
مقالات نشریه ای مرتبط: 
 
مقالات همایشی مرتبط: 
 
ارتباط خیلی زیاد ارتباط زیاد مرتبط ارتباط کمتر
 
 
بازدید یکساله 29   pdf-file
 
 
 
آخرین های بلاگ
ورود به بلاگ مرکز اطلاعات علمی