اثر روش سنتز بر ميکروساختار و خواص دي الکتريک پيزوسراميک بدون سرب K_0.44Na_0.52Li_0.04)(Ta_0.1Sb_0.06Nb_0.84) O₃)

در اين تحقيق پودرهاي پيزوسراميکي بدون سرب (K_0.44Na_0.52Li_0.04)(Ta_0.1Sb_0.06Nb_0.84) O₃ به دو روش سراميکي سنتي و پوشش دهي کلوييدي آبي تهيه گرديد. پودرهاي سراميکي سنتز شده پس از پرس شدن در دماهاي مختلف پخت شدند. بر روي تمامي نمونه ها آزمون هاي اشعه ايکس (XRD)، ميکروسکوپ الکتروني روبشي (SEM) و اندازه گيري خواص دي الکتريکي انجام شد. الگوي پراش اشعه ايکس نمونه هاي بالک ساخته شده از پودرهايي که با روش کلوييدي آبي سنتز شده بودند، تشکيل فاز خالص پروسکايت پيزوسراميک بر پايه نايوبات سديم- پتاسيم را نشان داد. آزمون اشعه ايکس نمونه هاي پخت شده که پودرهاي اوليه آن با کمک روش سراميکي سنتي تهيه شده بودند علاوه بر ساختار پروسکايت، تشکيل فاز ناخالصي با ساختار تتراگونال تنگستن- برنز را نيز نشان داد. تصاوير SEM نمونه هاي بالک پيزوسراميکي تهيه شده از هر دو روش سراميکي و کلوييدي آبي مورفولوژي مکعبي شکل دانه هاي نايوبات سديم پتاسيم را به وضوح نشان داد. ضريب دي الکتريک نمونه هاي تهيه شده به کمک روش سراميکي سنتي بالاتر از قرص هاي ساخته شده به روش کلوييدي آبي بوده در حالي که ميزان اتلاف دي الکتريک براي نمونه هاي تهيه شده به روش کلوييدي آبي پايين تر بود.