برای اطلاع از آخرین مقالات علمی و اخبار کرونا(COVID-19) کلیک کنید

مشخصات مقاله

عنوان نشریه: 
 
اطلاعات شماره: 
تابستان 1389 , دوره  2 , شماره  5 ; از صفحه 12 تا صفحه 19 .
 
عنوان مقاله: 

تصحيح تصوير حاصل از پروفايلومترها از سطوحي با زبري نانومتري

 
نویسندگان: 
 
آدرس:  
* تهران، دانشگاه آزاد اسلامی، واحد علوم و تحقیقات، دانشکده فیزیک پلاسما
 
چکیده: 

در اين مقاله نشان مي دهيم که فرآيندهاي مارکوف نقشي اساسي در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافي آن سطح دارند. توپوگرافي سطح حاصل شده از يک پروفايلومتر مانند ميکروسکوپ نيروي اتمي AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتي سايز سوزن پروب با تغييرات ارتفاع سطح قابل مقايسه باشد، تصوير سطح نسبت به سطح اصلي مقداري متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن يک تلاقي در تابع ساختار سطح مي شود. براي مقياس هاي کوچکتر از طول مارکوف - مقياس طول مينيمم بر روي فرآيندي که مارکوف باشد - تابع تصادفي که سطح زبر را توصيف مي کند غير مارکوفي است، در حاليکه براي مقياس طول بزرگتر از طول مارکوف، سطح مي تواند توسط يک فرآيند مارکوف توصيف شود. سطوح زبر مصنوعي توليد شده با روش (Fractional Guassian Noise) FGN، به خوبي سطح زبر V2O5 حاصل شده توسطAFM ، اين نتايج را تاييد مي کند.

 
کلید واژه: 

 
موضوعات مرتبط: 
 
ارجاعات: 
  • ندارد
 
 
مقالات نشریه ای مرتبط: 
 
مقالات همایشی مرتبط: 
 

  چکیده انگلیسی بازدید یکساله 74
 
 
آخرین های بلاگ
ورود به بلاگ مرکز اطلاعات علمی